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測試手段


序號

測試項目

儀(yi)器名稱

儀器名稱

說明

1

稀有氣體(ti)宇宙成因核素21Ne測(ce)年方法(fa)

GV 5400稀有氣體(ti)質譜儀

提供(gong)石英樣品的21Ne暴露(lu)測(ce)年/埋藏(zang)測(ce)年分析(xi)

2

元(yuan)素分析

Avio 2000 ICP-OES 電感耦合等離子體(ti)-原(yuan)子發(fa)射光譜(pu)儀(yi)

提供主量、微量及痕量元素的定(ding)性/定(ding)量分析

3

裂變徑跡年代

裂變(bian)徑跡測試系統

提供(gong)基巖及碎屑裂(lie)變徑跡樣品年(nian)齡

4

K-Ar&40Ar-39Ar

GV5400&MM1200稀(xi)有氣(qi)體質譜


提供含鉀類礦物及部分火成巖樣(yang)品年齡

5

(U-Th)/He測年(nian)                                  

Resolution M50-LR 193nm準分子激光剝蝕(shi)系統(tong)       Alphachron MK II氦萃(cui)取(qu)純化測量儀                                    Agilent ICP-MS7900電感耦(ou)合(he)等離子體質譜儀

提供磷灰石、鋯石等(deng)礦物(wu)的(U-Th)/He測年(nian)分析                    

6

U-Pb測年

Resolution M50-LR 193nm準分子激光剝蝕(shi)系統(tong)                 Agilent ICP-MS7900電感耦合等離子體質譜儀  

提(ti)供鋯(gao)石等礦物的U-Pb測年分析(xi)

7








孢粉(fen)








Olympus BX51顯微(wei)鏡

提供孢粉樣品的鑒定(ding)分析

Leica DM6000顯(xian)微(wei)鏡(jing)

提供(gong)孢(bao)粉樣品的鑒定分(fen)析(xi)

Malvern 3000激(ji)光粒度儀

提供沉積物的粒徑分(fen)析

Elemenar Rapid CS碳元素分析儀

提供沉積物的(de)總碳、有機(ji)碳含(han)量分析

Bartington MS2磁化率(lv)儀(yi)

提供沉積(ji)物的低頻、高頻磁化(hua)率分(fen)析

8


C14測年


Quantulus-1220超(chao)低本底液(ye)體閃爍譜儀(yi)

提供常規(gui)C14樣品的測年分析

AMS加速器(qi)石墨靶(ba)合成(cheng)裝置

提供(gong)AMS加速器C14樣品(pin)的測(ce)年分析

9

ESR測年

Bruker X-bond EMX-6 ESR 譜(pu)儀

提供第四紀地質和考古樣品的ESR測年(nian)分析

10








釋光(guang)測年(nian)








Risoe TL/OSL-DA-20C/D自動釋(shi)光測年(nian)儀5套,其中常規(gui)標配1套(tao),配大功率激發光源1套,配單顆(ke)粒測試系統1套(tao),配脈沖激發1套,配(pei)脈沖+輻照(zhao)加熱(re)裝置(zhi)1

用(yong)于釋(shi)光測年等效劑量分析

Ortec高純鍺gamma譜(pu)儀系統

用于釋光測年環境劑量率分析

野外(wai)便(bian)攜式(shi)碘(dian)化鈉gamma譜儀(yi)


TLD500劑量片(pian)


前(qian)處理設備: Frantz LB-1磁選儀,離心機,篩分(fen)儀,球(qiu)磨儀,粉(fen)碎機,旋轉培養皿,重液分(fen)選系統




用(yong)于樣品的(de)前(qian)處(chu)理,其(qi)中磁選儀用(yong)于粗顆(ke)粒石英或者(zhe)鉀長石提純中去除磁性礦(kuang)物及暗色(se)碎(sui)屑礦(kuang)物、離心機用(yong)于清洗樣品、篩分(fen)儀用(yong)于樣品的(de)篩分(fen)、球(qiu)磨儀和粉碎(sui)機用(yong)于環(huan)境(jing)劑量(liang)率樣品的(de)粉碎(sui)、旋轉培養皿用(yong)于溶(rong)蝕(shi)細顆(ke)粒(li)石英過程中(zhong)攪拌、重液(ye)分(fen)離系(xi)統用于粗顆粒(li)石英或者鉀長石重液(ye)分(fen)離

11

宇宙成(cheng)因(yin)核素10Be&26Al測年

樣品(pin)前(qian)處(chu)理系統



提供石英樣(yang)品(pin)的10Be&26Al暴露年齡、埋藏年齡分析(xi)

12

巖石高速摩擦實驗

巖石高速摩(mo)擦實驗機(ji)

模(mo)擬從(cong)慢速(su)板塊運動(dong)速(su)度到(dao)地震同震高(gao)速(su)滑(hua)動(dong)過程(cheng)、滑(hua)坡過程(cheng)與動(dong)力學模(mo)擬

13

氣體介質三軸高溫高壓巖石力學(xue)實(shi)驗

氣體介質三軸高(gao)溫高(gao)壓巖石力(li)學實驗

溫度700C,壓力400MPa,孔隙(xi)壓200MPa;適用(yong)于斷(duan)層摩擦強度、滑動穩定性(xing)、巖石破裂強度等(deng)測試

14

固體介(jie)質三軸高溫高壓(ya)巖石力學實驗

固體介質三軸(zhou)高溫高壓巖石力學實驗

溫度1200C,壓力(li)3000MPa,適用于巖石(shi)高(gao)溫高(gao)壓流變、巖石(shi)破裂(lie)、脆塑性轉化測試,實(shi)驗(yan)滿足(zu)巖石(shi)圈100公里范(fan)圍內的溫度壓力(li)條件,可滿足(zu)地(di)震力(li)學(xue)、工程巖石(shi)力(li)學(xue)、能源開發和地(di)熱開發相(xiang)關的高(gao)溫高(gao)壓巖石(shi)力(li)學(xue)實(shi)驗(yan)條件

15

氣(qi)體介質高(gao)溫高(gao)壓(ya)巖(yan)石(shi)力學實驗

氣體(ti)介質高溫(wen)高壓巖(yan)石(shi)力學實驗

溫度1300C,壓力300MPa,適(shi)用(yong)于巖石高溫流變(bian)強度、脆塑性轉化強度實驗

16

高溫高壓(ya)巖石物(wu)理實(shi)驗(yan)

高(gao)溫(wen)高(gao)壓巖石物理(li)實驗

溫度1200C,壓力2000MPa,適用(yong)于高(gao)溫高(gao)壓巖石波速、電導率實驗測試,實驗巖石化學

17

高溫高壓滲透率實(shi)驗

高溫高壓滲透(tou)率實驗機(ji)

測量巖(yan)石(shi)滲透率、斷層帶超低滲透率

18

臥式(shi)雙軸巖石力(li)學實驗

臥式雙軸巖石力(li)學實(shi)驗系統

自(zi)主研發(fa)儀器,用(yong)于開展常溫常壓條件下各種三維結構樣(yang)品的變(bian)形與失穩(wen)過程(cheng)的加卸載過程(cheng)實驗,輔以(yi)多物理場觀測(ce)系(xi)統,可深入研究各類構造樣品的形變與(yu)破裂的復(fu)雜動力(li)學(xue)過程(cheng)。

19

構造變形多物(wu)理(li)場觀測

構(gou)造變形多物(wu)理場觀測(ce)系統

獲(huo)取(qu)構造樣品的時(shi)空(kong)演(yan)化與(yu)失穩的形變(bian)特(te)征,獲(huo)取(qu)構造演(yan)化失穩過程的溫度響應特(te)征,獲(huo)取樣(yang)品內部的微破裂三維時(shi)空演化特征及其矩張(zhang)量解,開展實驗地震學(xue)研究。

20

常(chang)規單(dan)軸巖石(shi)力學實驗

常規單軸(zhou)巖(yan)石(shi)力學實驗系統

可開(kai)展巴(ba)西劈拉、三(san)點彎(wan)(wan)曲、四(si)點彎(wan)(wan)曲和角模剪切等各類典(dian)型實驗或相關定制(zhi)類實驗,測(ce)量(liang)材料(liao)(liao)的拉伸強度(du)、抗壓強度(du)、彈性模量(liang)與泊(bo)松(song)比、內聚力、內摩擦角(jiao)、斷(duan)裂(lie)(lie)韌度(du)等(deng)基本力學參數;輔以多物理量(liang)觀測(ce)系統,可同步(bu)觀測(ce)材料(liao)(liao)的變(bian)形與破裂(lie)(lie)過程(cheng)。

21




掃描電鏡及樣(yang)品(pin)前處理




ZEISS-SIGMA熱場發射掃描電鏡,附加OXFORD X-MAXN 50能譜儀(yi)和OXFORD NORDLYS NANO背散射電子衍射儀

高分(fen)辨樣品微區形貌分(fen)析,能譜(EDS)實(shi)現微區成分分析,背散(san)射電子(zi)衍射(EBSD)實現(xian)結(jie)構及結(jie)晶學信息分(fen)析(xi)。

BUEHLER VIBROMET 2自動振動拋光機(ji)

用于掃描(miao)電鏡測試(shi)的薄片樣品(pin)前期(qi)拋(pao)光處(chu)理

LEICA EM ACE600高真空鍍膜儀

通過金(jin)屬(shu)濺射和(he)彈絲(si)蒸發對樣(yang)品表面均(jun)勻鍍膜實現(xian)非(fei)導電(dian)樣品的導電(dian)處(chu)理(li),可精確(que)控制膜厚度。

22

X射線粉晶衍射

BRUKER D8 ADVANCE X射(she)(she)線(xian)粉晶(jing)衍射(she)(she)儀

粉末樣(yang)品的物相組成定(ding)性和定(ding)量分析、原位微(wei)區分析。

23

傅里葉紅外光譜

BRUKER VERTEX 70V紅外光譜(pu)儀

粉(fen)末樣品反(fan)映其分子(zi)結(jie)構的(de)紅外(wai)光譜(pu)分析(xi),礦物薄片樣品的(de)水(shui)含量(liang)分析(xi)

24

差(cha)熱-熱重分析

NETZSCH STA449 F3同步熱(re)分析儀

樣品(pin)質量隨溫(wen)度的變化(hua)過程(TG),樣(yang)品(pin)在溫度(du)程序過程中吸熱(re)、放(fang)熱(re)、比熱(re)變化等熱(re)效應信息(DSC

25

比表面(mian)積及孔徑測試

BELSORP MINI II比表面(mian)積及孔徑測(ce)定(ding)儀

樣品的(de)比表面積、孔(kong)徑等(deng)分析(xi)



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